Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Nomoto S.(s_nomoto@istec.or.jp), Sato A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, TFA-MOD process, modeling, numerical analysis, fabrication
Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Iwai H., Miyata S., Konishi M., Ibi A., Takahashi K.(ktakahashi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, REBCO, YBCO, REBCO, REBCO, coated conductors, substrate Hastelloy, Jc/B curves, experimental results, critical caracteristics
Iijima Y., Muroga T., Nagaya S., Kashima N., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Kakimoto K., Yamada Y., Iwai H., Hirayama T., Sutoh Y., Niwa T., Miyata S., Sasaki H., Kato T.(tkato@jfcc.or.jp), Ikuhara Y., Ibi A., Sasaki Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, PLD process, reel-to-reel process, CVD process, multistage process, substrate Hastelloy, grain alignment, microstructure, fabrication
Nagaya S., Kashima N., Izumi T., Shiohara Y., Kato T., Hirayama T., Sasaki Y., Sasaki H.(hisasaki@jfcc.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, CVD process, multistage process, fabrication, microstructure
Muroga T., Kiss T., Shiohara Y., Watanabe T., Watanabe T., Otabe E.S., Kiuchi M., Fukumoto Y., Yamada Y., Miyata S., Yamauchi K., Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp), Ibi A.
Jiang Z., Saitoh T., Shiohara Y., Amemiya N.(ame@rain.dnj.ynu.ac.jp), Kasai S., Enomoto N.
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Iwakuma M.(iwakuma@sc.kyushu-u.ac.jp), Funaki K., Yamada Y., Nigo M., Inoue D., Miyamoto N.
Aoki Y., Shiohara Y.(shiohara@istec.or.jp)
Takahashi K., Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Iwai H., Miyata S., Ibi A.(ibi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, texture, critical current, substrate Hastelloy, thickness dependence, fabrication, critical caracteristics
Saitoh T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Nakaoka K., Kito Y.
Muroga T., Shiohara Y., Kiuchi M., Yamada Y., Miyata S., Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp), Ibi A., Kimura K.
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A., Nakaoka K., Kitoh Y.
Muroga T., Nagaya S., Kashima N., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Miyata S., Watanabe T.(t-nabe@istec.or.jp), Niwa T.(Niwa.Toshiharu@chuden.co.jp), Mori M.(Mori.Masami2@chuden.co.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductor modules, CVD process, multistage process, substrate Hastelloy, microstructure, texture, growth rate, fabrication
Amemiya N., Iijima Y., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Kakimoto K., Yamada Y., Nishioka T., Enomoto N., Zhenan J.
Muroga T., Nagaya S., Kashima N., Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Miyata S., Shikimachi K.
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Funaki K., Iwakuma M., Yamada Y., Shiohara Y.(shiohara@istec.or.jp), Nigo M., Inoue D.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, ac losses, angular dependence, experimental results, fabrication
Muroga T., Shiohara Y., Watanabe T., Kato T., Yamada Y., Hirayama T., Iwai H.(iwai@istec.or.jp), Miyata S.
Shiohara Y.(shiohara@istec.or.jp)
Ключевые слова: coated conductors, buffer layers, substrate Hastelloy, Jc/B curves, ac losses, review, critical caracteristics
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Honjo T., Matsuda J.S.(jmatsuda@istec.or.jp), Yajima A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, microstructure, heat treatment, TFA-MOD process, fabrication, substrate Hastelloy, IBAD process
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.